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블릿 응용분야

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OPI-160   LED WAFER-LEVEL MEASUREMENT SYSTEM

다양한 항목을 간편하게 측정, User interface(주문형 소프트웨어 설계가능) 웨이퍼 수준에서 필요한 광학적,전기적, 온도의존성 통합측정, 측정의 자동화 및 편리한 사용자 환경, 고배율 현미경 및 카메라를 통한 관찰


  • 다양한 항목을 간편하게 측정, User Interfae(주문형 소프트웨어 설계가능)
  • ㆍOptical Measurement
  •    Spectrum, Peak/Dominant wavelength(λp, λd), CIE Color Coordinate(Cx, Cy 색좌표), Luminous Intensity(Iv,광도),
  •    Correlated Color Temperature(CCT(Tc), 상관색 온도), Color Rendering Index(CRI(Ra), 연색성), CIE XYZ(삼자극치),
  •    Radiant Flux, Luminous Flux(전광속), Spatial Intensity Distribution(배광, 지향각)
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  • ㆍElectrical Measurement
  •    Forward/ Reverse Current[lf, lr], Forward/Reverse Voltage[Vf, Vr], l-V-L Sweep
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  • ㆍTemperature Dependence Measurement
  •    Temperature.VS.Electrical/optical Test
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  • ㆍCurrent Spreading and Degradation Analysis
  •    Real time Image analysis of LED using CCD Camera and beam profiler software
  • 연구개발에 최적
  • ㆍ웨이퍼 수준에서 필요한 광학적/전기적/온도의존성 통합 측정
  • ㆍ측정의 자동화 및 편리한 사용자 호나경
  • ㆍ고배율 현미경 및 카메라를 통한 Chip Current spreading과 degradation의 관찰
  • ㆍ많은 연구자들에 의한 필요한 기능 통합 및 검증
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  • ㆍ(CIE)국제조명위원회 측정모드 및 한국표준과학연구소 표준값 소급
  • ㆍKeithley 2612을 이용한 고정밀 측정
  • ㆍTE Cooled 2048 pixel CCD 센서를 이용한 저노이즈, 고정밀, 고재현성 구현
  • ㆍ측정데이터를 분석 및 정리, 중첩하여 2차원, 3차원 그래프와 데이터리스트로 배광특성 표현
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