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블릿 응용분야

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OPI-1000  INTEGRATING SPHERE SYSTEM

고객 사양에 따른 주문 제작 가능, 알루미늄 외관 및 Barium sulfate 내부 코팅, KRISS의 할로겐 램프로 교정진행분광/광파워/전기특성측정


  • 고객사양에 따른 제작가능
  • ㆍ30cm ~ 2m 까지 다양한 사이즈의 적분구 제작
  • ㆍ알루미늄 재질 외관 및 Barium sulfate 내부 코팅
  • ㆍ고객선택에 따른 Port 수 결정 가능
  • 정확한 측정
  • ㆍ97% 이상(Visible)의 반사율
  • ㆍf1\'<1.5% Class L 의 불확도
  • ㆍColor Correction Filter 를 이용한 색오차 보정
  • ㆍThermo-Stabilization Control 기능: 30℃
  • ㆍ5 ~ 65,000msec 의 빠른 적분시간
  • ㆍ3000 watt 급 램프Power 사용
  • ㆍ600nm 에서 0.05% 이하의 산란광
  • ㆍTE cooled 2048 element linear silicon CCD array Detector 장착
  • ㆍ보조램프와 파워서플라이를 이용한 내부흡수율 재고
  • 인증기관 교정진행
  • ㆍKRISS(한국표준과학연구원) 에서 제공하는 전광선속 표준 인증 물질(CRM)인 110V, 60W 급 할로겐 램프로 교정진행
  • 측정항목
  • ㆍ분광특성: 최고파장,주파장,무게중심파장,중간파장,반측폭,색좌표,색순도,상관색온도,연색지수
  • ㆍ광파워특성: 전광속, 전복사속, 광효율
  • ㆍ전기특성: 순방향전류,순방향전압,소비전력
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  • 전체시스템 구성
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  • 측정항목 인가범위 측정
    범위 정확도 분해능
    파장 [nm] 외부전원 350~830 ±0.3 +1
    색좌표 Cx, Cy 외부전원 0~0.7 ±0.002 ±0.002
    전광속 Lm 외부전원 0.01~1000 < 5% 0.001
    전복사속 mW 외부전원 0.01~100 < 5% 0.001
    시간-광 Sweep 시간에 따른 광 특성 변화 측정
    전류-광 Sweep 전류에 따른 광 특성 변화 측정
    전압-광 Sweep 전압에 따른 광 특성 변화 측정