광전자정밀(주)

ㆍOptical Measurement
Spectrum, Peak/Dominant wavelength(λp, λd), CIE Color Coordinate(Cx, Cy 색좌표), Luminous Intensity(Iv,광도),
Correlated Color Temperature(CCT(Tc), 상관색 온도), Color Rendering Index(CRI(Ra), 연색성), CIE XYZ(삼자극치),
Radiant Flux, Luminous Flux(전광속), Spatial Intensity Distribution(배광, 지향각)
ㆍElectrical Measurement
Forward/ Reverse Current[lf, lr], Forward/Reverse Voltage[Vf, Vr], l-V-L Sweep
ㆍTemperature Dependence Measurement
Temperature.VS.Electrical/optical Test
ㆍCurrent Spreading and Degradation Analysis
Real time Image analysis of LED using CCD Camera and beam profiler software
ㆍ웨이퍼 수준에서 필요한 광학적/전기적/온도의존성 통합 측정
ㆍ측정의 자동화 및 편리한 사용자 호나경
ㆍ고배율 현미경 및 카메라를 통한 Chip Current spreading과 degradation의 관찰
ㆍ많은 연구자들에 의한 필요한 기능 통합 및 검증
ㆍ(CIE)국제조명위원회 측정모드 및 한국표준과학연구소 표준값 소급
ㆍKeithley 2612을 이용한 고정밀 측정
ㆍTE Cooled 2048 pixel CCD 센서를 이용한 저노이즈, 고정밀, 고재현성 구현
ㆍ측정데이터를 분석 및 정리, 중첩하여 2차원, 3차원 그래프와 데이터리스트로 배광특성 표현

제품소개

Into the world
as a light, WITHLIGHT