광전자정밀

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블릿 형광물질

    • OPI-620
      HIGH POWER LED
      • 고출력 멀티칩 LED의 온도 변화에 따른 광학적,전기적특성을 동시에 측정
        고출력 단일칩,멀티칩 LED의 성능측정
        광학적, 전기적 특성을 통합 측정 및 정확하고 신속한 온도제어
        X-Y-Z로봇을 이용한 정확한 위치 이동
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    • OPI-110
      MULTI-CHANNEL LEOS
      • 다양한 고출력, 멀티칩, 모듈LED/OLED등의광학적/전기적/열적 특성을 측정, 전류인가 및 측정 3A까지 가능하며 연속 및 펄스 형태가능
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    • OPI-150
      IN-LINE LED TESTER
      • 다양한 양산용장비(Sorter.Prover.Handler)를 테스터에 연결가능
        사용자 환경에 맞는 User interface, Under Photometer 기능제공
        수집된 data를 excel파일로 자동 저장 및 통계적 처리 가능
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    • OPI-800
      LED THERMAL TESTER
      • LED의 정상상태 및 과도상태에서의 온도 변화에 따른 열 특성을 측정하고, 정상상태에서 온도변환에 따른 광, 전기특성의 변화를 측정하여 분석할 수 있는 측정시스템
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    • OPI-170
      UNIVERSAL LED TEST SYSTEM
      • 고출력 멀티칩 LED의 온도변화에 따른 광학적,전기적 특성을 동시에 측정
        고출력 단일칩,멀티칩 LED의 성능 측정
        광학정, 전기적 특성을 토합 측정 및 정확하고 신속한 온도제어
        X-Y-Z로봇을 이용한 정확한 위치 이동
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    • OPI-780
      CHIP COUNTER
      • 칩의 수량을 자동으로 카운트하는 프로그램으로 영상처리속도 : 10 sec/2inch wafer, 모델명, 시리얼번호, opterator명 입력, 다양한 칩에 대한 조건을 설정, 저장, 불러오기, 수정하기 가능
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    • OPI-160
      LED WAFER-LEVEL MEASUREMENT SYSTEM
      • 다양한 항목을 간편하게 측정, User interface(주문형 소프트웨어 설계가능) 웨이퍼 수준에서 필요한 광학적,전기적, 온도의존성 통합측정, 측정의 자동화 및 편리한 사용자 환경, 고배율 현미경 및 카메라를 통한 관찰
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    • OPI-100
      LEOS
      • LED 패키지 검사에 최적화되고, 관련 업체에서 가장 많이 사용하는 표준화된 제품
        품질검사, 연구개발,신뢰성 검사에 최적, 사용자 편의성을 고려한 측정 및 데이터 활용가능
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    • OPI-305
      GONIOPHOTOMETER
      • 다양한 LED의 지향각 및 광도를 원터치 방식으로 편리하게 측정가능
        타 장비호환 및 측정항목 확장가능, 측정결과의 편집 및 활용의 편리성(2D,3D그래프로배광특성 표현)
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