광전자정밀

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블릿 신뢰성 시험기

    • OPI-160
      LED WAFER-LEVEL MEASUREMENT SYSTEM
      • 다양한 항목을 간편하게 측정, User interface(주문형 소프트웨어 설계가능) 웨이퍼 수준에서 필요한 광학적,전기적, 온도의존성 통합측정, 측정의 자동화 및 편리한 사용자 환경, 고배율 현미경 및 카메라를 통한 관찰
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    • OPI-790
      LED LAMP AGING SYSTEM
      • - LED 램프 장치용 광학 노화 시험 시스템 (Optical Aging Test System for LED Lamp Device)
        - 전체 장치 절연 DC 전류 제어 측정 (Measurement of total device isolated DC current control)
        - 전류 소스 채널 수: 4채널 (Current source channels: 4)
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    • OPI-170
      UNIVERSAL LED TEST SYSTEM
      • 고출력 멀티칩 LED의 온도변화에 따른 광학적,전기적 특성을 동시에 측정
        고출력 단일칩,멀티칩 LED의 성능 측정
        광학정, 전기적 특성을 토합 측정 및 정확하고 신속한 온도제어
        X-Y-Z로봇을 이용한 정확한 위치 이동
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    • OPI-620
      HIGH POWER LED
      • 고출력 멀티칩 LED의 온도 변화에 따른 광학적,전기적특성을 동시에 측정
        고출력 단일칩,멀티칩 LED의 성능측정
        광학적, 전기적 특성을 통합 측정 및 정확하고 신속한 온도제어
        X-Y-Z로봇을 이용한 정확한 위치 이동
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    • OPI-800
      LED THERMAL TESTER
      • LED의 정상상태 및 과도상태에서의 온도 변화에 따른 열 특성을 측정하고, 정상상태에서 온도변환에 따른 광, 전기특성의 변화를 측정하여 분석할 수 있는 측정시스템
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    • OPI-810
      THERMAL LEOS
      • Thermal LEOS는 열특성 뿐만 아니라, MULTI CHANNEL LEOS의 광특성, 전기특성을 측정가능하다.
        고파워 LED의 물릭적 성질을 해석하여 PN접합부 온도와 열저항 값을 측정하고 접합부의 온도변화에 따른 LED효율성 확보 및 안정저인 온도유지분야에 적용
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